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Radical Quality Professional High Quality 600x Invertierte Metallurgie Metallogra...
Produktübersicht
Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalter mit Spiegel 100 % Lichtübertragung zum Port für helle Bilder 3-Megapixel-USB-Kamera mit Erfassungssoftware (WIN 7) Optischer Adapter CE-, UL- und ISO-Bestätigungen Perfekt für metallurgische Labore, Automobilindustrie & Forschungsinstitute Best Price to performan ce-Verhältnis
Eigenschaften
Kopf: Binokularer Sidentopf um 25 Grad geneigt. Vorderer Kameraanschluss
Objektive: M PLAN Flat Field Achromate M 4x 10x, 20x 40x Japan Okulare: HKW 10x & WF 15x
Mechanischer Tisch: Großer Tisch 150 x 160 mm, 30 x 30 mm Noniusbewegung
Beleuchtung: 3W LED Köhler. 110-V-/220-V-Illuminator: Kalibrierte Lichtintensität mit Feld- und Aperturblende Polarisation: Eingebauter drehbarer Analysator und Lampenfilter-Polarisator
Kamerasensor: 2048 x 1536 Pixel Frames: 12 FPS Kameraverkleinerungsobjektiv: 0,5x Software: Live-Bildgebung und -Erfassung mit Vista- und WIN 10-Kompatibilität
Details
Artikelmodellnummer: RMM1300M
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Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalte
Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalte
Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalte
Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalte
Invertiertes metallurgisches Metallographie-Forschungsmikroskop Vorderer Kameraanschluss – stört den Kopf nicht LONG WORKING DISTANCE Objektive von SEIKO JAPAN Ideal für die Untersuchung großer und einzelner Dide-polierter Metallproben Anti-Pilz, Anti-Reflexion und Hartbeschichtung auf allen optischen Komponenten 40x, 60x, 100x, 150x , 200x, 300x, 400x, 600x Vergrößerungen Variable Beleuchtung mit Apertur und Leuchtfeldblende Einstellbarer Pupillenabstand mit Diaoptereinstellung Sidentopf Kopf um 25 Grad geneigt Eingebauter Analysator und Polarisator für Dunkelfeldbeobachtungen Niedriger Antrieb Großer abgestufter mechanischer Tisch für reibungsloses Scannen von Proben Ultrafeine Fokussierung Knöpfe Verschiedene Tischeinsätze für verschiedene Probengrößen Flip-in-Typ Kameraport-Wahlschalte
