Micro-Epsilon Messanlage Dimension Control dimCONTROL 8260

 

 

 

Micro-Epsilon Messanlage Dimension Control dimCONTROL 8260

 

 

 

     

Marke:

 MICRO-EPSILON-MESSTECHNIK GmbH & Co. KG
 

Modell:

 dimCONTROL 8260
 

EAN:

 
 

Interne ArtNr:

 1234578439
     
     

 

    Beschreibung

      
   

Ziel der Messanlage dimensionCONTROL ist die berührungslose Geometrievermessung von Ingots. Im Einzelnen werden die Abweichung der Seitenlängen, Phasenlängen, Winkel und Diagonallängen bezogen auf die vorgegebenen Sollwerte gemessen.

 

In einem teilautomatisierten Rüstvorgang werden zunächst das Aufnahmeprisma und die Sensorik eingestellt und kalibriert. Danach kann der zu messende Ingotblock eingelegt werden. Der Messschlitten bewegt die vier laseroptischen Triangulations-Linienscanner vom Typ für scanCONTROL LLT 2800 entlang des Ingotblocks. Das System misst und archiviert automatisch Abweichungen der vorgegeben Sollwerte für Seitenlängen, Phasenlängen, Winkel und Diagonallängen.

 

Prinzip der Laser-Linien-Triangulation
Bei dem Prinzip des Scannens mit optischer Triangulation wird über eine Linien-Optik eine Laserlinie auf die Messobjektoberfläche projiziert. Das diffus reflektierte Licht dieser Laserlinie wird über eine hochwertige Optik auf eine CMOS-Matrix abgebildet und zweidimensional ausgewertet. Die Laser-Linien-Triangulation entspricht im Prinzip der Triangulation eines Laserpunktes, zusätzlich wird bei der Messung eine Reihe von Zeilen gleichzeitig mittels der Laserlinie belichtet. Neben der  Abstandsinformation (Z-Achse) wird auch die exakte Position eines jeden Punktes auf der Laserlinie (X-Achse) erfasst und vom System ausgegeben.

 

Datenblatt

 

 

    Technische Daten

      
   
Messgenauigkeiten
Seitenlänge
Auflösung:A ≤ 20 μm
Wiederholpräzision:

cgm ≤ 1,33

Produktionstoleranz T ≥ ± 0,40 mm

Fase
Auflösung:A ≤ 14 μm
Wiederholpräzision:cgm ≤ 1,33
 Produktionstoleranz T ≥ ± 0,28 mm
Diagonale
Auflösung:A ≤ 40 μm
Wiederholpräzision:

cgm ≤ 1,33

Produktionstoleranz T ≥ ± 0,50 mm

Winkel
Auflösung:A ≤ 0,005 °
Wiederholpräzision:

cgm ≤ 1,33

Produktionstoleranz T ≥ ± 0,10 °

Targeteigenschaften
Targetmaterial

Silizium, Waferblöcke (Ingots)

- geschnitten, quadriert, gefast

OberflächeMatt grau bis spiegelnd mit unterschiedlichen Rauhigkeiten.
Innerhalb einer Seitenfläche homogen, mit ausreichendem Streulichtanteil
Querschnittmin. 125 x 125 mm,
max. 210 x 210 mm
Längemin. 150 mm, max. 800 mm
Gewichtmin. 3,5 kg, max. 83 kg
Anlagenkennwerte
Maße Meßsystem (L x B x H)2350 x 850 x 1500 mm
Gewicht:ca. 900 kg
Eigenschaften IPCIntel Core Duo / 2 GHz / 1 GB RAM /
Windows XP
Netzspannung:230 V / 50 Hz
Schutzart:IP 20
Umweltbedingungen
Umgebungstemperaturmin + 15 °C / max. + 40 °C
Temperaturschwankungen während des Betriebes±5 °C
Rel. LuftfeuchteMax. 75 % im angegebenen Temperaturbereich
Produktoberflächentemperaturmin + 20° C / max. + 45° C

 

 

 

                  
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